以下のタスクを行う際に弊社のソフトウェアADK、X2D、SI3Dがサポートします。

• 複雑な3D構造のSパラメータ計算
• 最適なTXtap係数の計算、チャンネルシミュレーションの実行、アイダイアグラムの作成
• Sパラメータを同等のSPICEモデルに変換
• SPICEモデルをSパラメータに変換
• プリント基板の層構成の定義やインピーダンスコントロールのトレースの間隔幅測定
• 最大8倍まで対称構造の全波シミュレーションをスピードアップ
• Wエレメント伝送線路モデルの作成
• 複数の4ポート測定データを1つのタッチストーンファイルにまとめる
• DCを満たし、タッチストーンファイルの受動と異なる因果関係の修正
• SパラメータをTDR・TDT波形に変換
• Sパラメータを周波数依存インピ－ダンスとディレイに一致
• Sパラメータを異なる基準のインピ－ダンスに変更
• シングルエンドSパラメータをミックスモードSパラメータに変換、またはその逆の変換
• カスケードもしくはディエンベッドSパラメータ
• マルチポートタッチストーンファイル内のfrom-and-toポートコネクションの特定
• タッチストーンファイルの一部を抽出
• タッチストーンファイル内の不正なデータを削除
• タッチストーンファイル内の周波数ポイントの追加または再整理
• 複数のタッチストーンファイルからのSパラメータのプロット
• IEEE8023apと他のスペックとの比較
• ICパラスティックエクストラクション用のモデルライブラリの作成
• VNA測定のテスト・フィクスチャのディエンべディング
• その他

アドバンスSIデザインキット (ADK)

ADKは総合的なSIユティリティツールで、一般的な多くのSIタスクをマウスワンクリックに簡素化します。ADKは主要ハードウェアメーカーで長年にわたり日常的に使用されています。新卒者でも1日のトレーニングで中間レベルのSIエンジニアのタスクが実行できるようになります。

例１

ADKは異なる因果関係を修正し、より良いチャンネルシミュレーションとインピーダンス測定値のために新しいタッチストーンファイルを出力します。

因果関係の補正後、Ｓパラメータはこのように変化します。

例2

Sパラメータが同等のHSPICEモデルにマウスワンクリックで変換します。

非因果モデルを描画することは効果がありません。ADKの因果関係の補正は

曲線モデルが元の周波数範囲を超えて有効であることを保証します。

例3

Sパラメータから最適化されたTXタップ係数とアイダイアグラムへもマウスワンクリックで行います。

X2D

X2Dは、多数の実測値と相関している2D RLGCフィールドソルバーです。層状構造はGUIを介して直接入力されます。任意の構造もユーザー定義のファイルまたは組み込みのテンプレートで簡単に指定できます。差動およびコモンモードインピーダンスを含むWエレメントモデルと詳細レポートが提供されます。

SI3D

デザインを繰り返し迅速に行うのに理想的なSI3Dは、複雑な3D構造のSパラメータを数日ではなく数分で計算する、いままでにない3DのSIツールです。例えば、60ポートコネクタモデルは.sat, .stp,または.igs形式にインポートでき、5分以内にノートパソコンでのシミュレーションが可能です。SI3Dは良く知られている3D全波ソルバーより、さらに正確なリターンロスとインピーダンスプロファイルを提供いたします。

In Situ De-embedding (ISD)

ISDは、特許出願中のディエンベディングツールです。因果関係とより正確なDUTの結果を提供しながら、TRLカリブレーションに代わり、SMAsと基板材料のセーブをサポートします。詳細についてはSI測定のページを参照ください。

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弊社はお客様の設計ニーズにお応えするため、密接に連携しサポートいたします。単にソフトウェアの販売ではなく、長年のSI経験とホットラインサポートも併せてご提供いたします。